计算机X射线摄影(CR)系统(专用检测项目)检测-百检网

首页
中国
计算机X射线摄影(CR)系统(专用检测项目)检测

关于计算机X射线摄影（CR）系统（专用检测项目）的检测，以下是对其检测对象、检测项目、检测标准和标准号以及检测方法的详细介绍：

一、检测对象

计算机X射线摄影（CR）系统，该系统利用数字化技术进行X射线成像，适用于五官、运动系统、消化系统、泌尿生殖系统、中枢神经系统等人体部位的检查。

二、检测项目

计算机X射线摄影（CR）系统的专用检测项目主要包括以下几个方面：

IP暗噪声：检测IP（成像板）的暗噪声水平，确保在无X射线曝光时，IP产生的噪声在可接受范围内。
IP响应均匀性和一致性：评估IP在不同曝光条件下的响应是否均匀一致，以确保图像质量。
剂量指示校准：校准IP的剂量指示，确保系统能够准确反映X射线的剂量。
IP响应线性：检测IP在不同剂量下的响应是否呈线性关系，以评估系统的剂量响应特性。
激光束功能：检测激光束的扫描功能是否正常，以确保图像采集的准确性。
空间分辨力与分辨力均匀性：评估系统的空间分辨力，即系统能够清晰分辨的*小细节尺寸，并检测分辨力在不同区域的均匀性。
低对比度细节检测：检测系统在低对比度条件下的细节识别能力，以评估其对微小病变的检出能力。
空间距离准确性：检测系统在图像中呈现的空间距离是否准确，以确保图像的几何尺寸与实际相符。
IP擦除完全性：检测IP在曝光后是否被完全擦除，以避免上一次曝光留下的影像对下一次曝光的影响。

三、检测标准和标准号

计算机X射线摄影（CR）系统的专用检测项目通常遵循以下标准和规范：

GBZ 187-2007《计算机X射线摄影（CR）质量控制检测规范》：该标准规定了计算机X射线摄影（CR）的质量控制检测项目、方法和评价标准，适用于医院计算机X射线摄影（CR）设备的质量控制检测。
WS 76（或其他相关标准）：该标准可能包含计算机X射线摄影（CR）系统的通用检测项目和具体检测方法，但具体标准号和名称可能因地区和发布机构而异。

四、检测方法

IP暗噪声检测：
- 对选用的IP进行一次擦除处理。
- 任选3~5块IP放入阅读器中，用自动定标或固定定标算法和系统增益至*大，进行扫描读取。
- 使用窗宽和窗位获取软拷贝影像，并读取每块IP的指示值。
- 在显示器上观察原始全野影像的清晰度和均匀性。
IP响应均匀性和一致性检测：
- 任选相同尺寸的三块IP，采用规定的曝光条件对每一块IP曝光。
- 每次曝光后保持相同的延迟时间读取，获得三幅影像。
- 测量每幅影像的中央区和四个象限区中心点光密度或平均像素值。
- 计算单点测量值与五点平均值的差异以及三块IP的平均响应值之间的差异。
剂量指示校准：
- 任选三块不同尺寸（类型）的IP，采用规定的曝光条件对每一块IP曝光。
- 每次曝光后保持相同的延迟时间读取。
- 测量空气比释动能与响应空气比释动能的一致性。
- 如果测量超过规定值，则重新进行检验。
IP响应线性检测：
- 使用单独一块IP，在规定的曝光条件下按顺序完成三次曝光-读取周期。
- 在工作站上获取三幅影像，记录CR系统剂量指示所显示的读数值。
- 计算IP三次曝光的响应空气比释动能与测量空气比释动能的一致性。
激光束功能检测：
- 将钢尺放在IP暗盒中心，使其长边垂直于激光束扫描线。
- 采用规定的曝光条件对IP曝光，获取一幅软拷贝影像。
- 用放大镜观察放大影像，评估激光束的扫描功能。
空间分辨力与分辨力均匀性检测：
- 选用两个相同型号空间分辨力测试卡，同时放置在一个IP暗盒表面。
- 采用规定的曝光条件对IP曝光并读取，获取一幅影像。
- 评估系统的空间分辨力和分辨力均匀性。
低对比度细节检测：
- 选择适当的低对比度细节检测模体，放置在一个IP的暗盒表面。
- 根据所选用模体说明书要求，选取管电压和适当的滤过条件进行曝光。
- 观察并记录模体影像中可探测到的*小细节。
空间距离准确性检测：
- 将两把有刻度的铅尺分别直和水平放置在一个IP暗盒上面。
- 采用规定的曝光条件对IP曝光并读取，采集一幅软拷贝影像。
- 用测距软件在监视器上对铅尺影像读取两个方向的测量距离，并与真实距离进行比较。
IP擦除完全性检测：
- 将一块大于3mm厚的铅板放置在一个IP暗盒中央区进行曝光。
- 然后再在上述条件下无铅板的情况下进行第二次曝光，获取一幅软拷贝影像。
- 观察第二次曝光的影像中是否存在**次曝光留下的铅板的幻影。

综上所述，计算机X射线摄影（CR）系统的专用检测项目涉及多个方面，需要严格按照相关标准和规范进行检测。通过全面的检测，可以确保系统的性能稳定可靠，提高医疗影像的诊断效能。