LEARNING DEVICE, LEARNING METHOD, ABNORMALITY DETE

作者：MITANI, Shohei | YOSHINAGA, Naoki

发明人：MITANI, Shohei | YOSHINAGA, Naoki

所有人：NEC CORPORATION 年：2022,

语种：英语

公开国家：WO 国家：世界知识产权组织

专利申请号：WOPCT-JP2020-046553 专利申请日期：2020-12-14

公开(公告)号：WO-2022130460-A1 公开日期：2022-06-23

分类号：G06N-20/00 国际主分类号：G06N-20/00 国际分类号：G06N-20/00

摘要：A learning device 10 includes a learning unit 11 which learns a first parameter and a second parameter included in a mapping model for mapping a feature vector that is generated on the basis of normal data input as training data to a region that is set on the basis of a preset subspace and distance from the subspace, said first parameter being for generating the feature vector and said second parameter being for adjusting the distance.L'invention concerne un dispositif d'apprentissage (10) qui comprend une unité d'apprentissage (11) qui apprend un premier paramètre et un second paramètre inclus dans un modèle de mappage pour mapper un vecteur de caractéristique qui est généré sur la base d'une entrée de données normale en tant que données d'apprentissage à une région qui est définie sur la base d'un sous-espace prédéfini et d'une distance à partir du sous-espace, ledit premier paramètre étant destiné à générer le vecteur de caractéristique et ledit second paramètre étant destiné à régler la distance.